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Published:1987
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张建华, 王广庆. Smart Instrument for Testing Thyristor Parameter[J]. 1987, (1): 105-112.
DOI:
张建华, 王广庆. Smart Instrument for Testing Thyristor Parameter[J]. 1987, (1): 105-112. DOI:
本文介绍了作者研制的一种带 GP—IB 标准接口
用微处理机控制
能测试晶闸管八个主要参数的仪器。重点叙述了仪器的系统框图和系统软件中的几个问题。
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