存储测试技术

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更新时间：2026-09-14

- 存储测试技术
- STORAGE MEASUREMENT TECHNIQUE
- 中北大学学报（自然科学版） 1991年第3期页码：1-5
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- 纸质出版：1991
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祖静, 张文栋. 存储测试技术[J]. 中北大学学报（自然科学版）, 1991,(3):1-5.

祖静, 张文栋. STORAGE MEASUREMENT TECHNIQUE[J]. 1991, (3): 1-5.
祖静, 张文栋. 存储测试技术[J]. 中北大学学报（自然科学版）, 1991,(3):1-5. DOI：

祖静, 张文栋. STORAGE MEASUREMENT TECHNIQUE[J]. 1991, (3): 1-5. DOI：

摘要

本文提出一个新的概念——存储测试技术

它特指把整个测试系统包括传感器、适配电路、瞬态波形记录仪、电源等微缩到一个小体积(例如10cm~3)

直接放入被测体内、被测环境中进行测试

不需从外部引线.采用存储测试技术使许多复杂的测试过程得以简化

得以实现.存储测试技术的关键是测试装置的微型化和低功耗.本文介绍了存储测试技术的国内外现状是以及目前探索研究的问题与发展.

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